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X 射線(xiàn)熒光測試儀 |
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| 型 號：XDV -μ |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：可以對100μm或更小的結構進(jìn)行分析 |
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達州X 射線(xiàn)熒光測試儀-XDV -μ-德國菲希爾Fischer
X 射線(xiàn)熒光測試儀，oxford涂層測厚儀，配有多毛細孔 X 射線(xiàn)光學(xué)系統，d3涂層測厚儀，可自動(dòng)測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。
XDV-u鍍層厚度測量?jì)x特點(diǎn)
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優(yōu)化的微區分析測試儀器
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根據X射線(xiàn)光學(xué)系統，合肥涂層測厚儀，可以對100 μm或更小的結構進(jìn)行分析
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極高的能量強度，青島涂層測厚儀，從而實(shí)現出色的精度
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即使對于薄鍍層，涂層測厚儀 fischer，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
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只適用于平面的或是接近平面的樣品
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底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
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通過(guò)快速、可編程的 XY 工作臺進(jìn)行自動(dòng)測量
XDV-u鍍層厚度測量?jì)x典型應用領(lǐng)域
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測量印刷線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架和芯片上的鍍層系統
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測量細小部件和細電線(xiàn)上的鍍層系統
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分析微小結構和微小部件的材料成分
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