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X 射線(xiàn)熒光測量系統 |
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| 型 號：X-RAY 5000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：在生產(chǎn)過(guò)程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續在線(xiàn)測量和分析 |
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果洛X(qián) 射線(xiàn)熒光測量系統-X-RAY 5000-德國菲希爾Fischer
X 射線(xiàn)熒光測量系統，defelsko涂層測厚儀，用于在生產(chǎn)過(guò)程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續在線(xiàn)測量和分析
特點(diǎn)
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法蘭測量頭，涂層測厚儀說(shuō)明書(shū)，用于在生產(chǎn)線(xiàn)中進(jìn)行連續測量
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X射線(xiàn)探測器可以為比例計數管，覆層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
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在生產(chǎn)過(guò)程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡(jiǎn)單校
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可在真空或大氣中使用
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可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測量
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堅固和耐用是設計的重心
典型應用領(lǐng)域
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光伏技術(shù)（CIGS，北京涂層測厚儀，CIS，石家莊涂層測厚儀，CdTe）
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分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
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連續生產(chǎn)線(xiàn)
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噴射和電鍍生產(chǎn)線(xiàn)監測
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測量大面積樣品
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