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Struers TargetSystem專(zhuān)為研發(fā)和失效分析實(shí)驗室的目標試樣制備和其它高精度的試樣制備而設計制造，，系統精度為+-5微米。主要應用于包括微電子元器件、分層剝離和FA等需要進(jìn)行微裂紋檢查的領(lǐng)域。系統的各種組件（TargetMaster，金相樣品自動(dòng)研磨機，TargetDoser，金相拋光研磨機，TargetX，，TargetZ）可根據需要采用若干種方式隨意組合。

- 自動(dòng)制備、清洗和測量

- 已鑲/未鑲試樣的橫斷面切割與平行拋光 
- 可見(jiàn)（外部）和隱藏（內部）目標的實(shí)時(shí)對準 
- 機載激光測量系統*，，精度為±5微米 
- 智能制備系統（IPS） 
- IPS數據庫，金相切片研磨機，可提供研磨和拋光表面去除率自動(dòng)重算去除率和時(shí)間 
- 操作十分簡(jiǎn)便

您的受益 
- 目標試樣不丟失 
- 大幅縮短制備時(shí)間 (< 30分鐘) 
- 對操作員技能無(wú)依賴(lài)性 
- 完全可再現性

TargetMaster：小型拋光機，適用于對精度要求極高的FA實(shí)驗室。可以單獨使用，金相研磨機價(jià)格，或者與兩種測量站TargetZ和TargetX之一配合使用。TargetMaster自動(dòng)拋光至目標值，金相試樣自動(dòng)研磨機，誤差僅數微米。 

TargetX：隱藏（內部）目標用測量站。站安裝在用戶(hù)X射線(xiàn)（不包含）中，通過(guò)外部控制臺操作，全自動(dòng)金相拋光研磨機，允許進(jìn)行實(shí)時(shí)對準和測量。對于可見(jiàn)（外部）目標的試樣，金相研磨機，采用TargetZ。

TargetZ：可見(jiàn)（外部）目標試樣用測量站。