平?jīng)鐾繉訙y厚儀MiniTest 7400,平?jīng)鐾繉訙y厚儀價(jià)格

平?jīng)鐾繉訙y厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

創(chuàng )新的用戶(hù)界面概念結合便捷的數據管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統理想的解決方案。

新概念的優(yōu)勢

直觀(guān)的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著(zhù)手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀(guān)察效果，即使在晚上或能見(jiàn)度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準及參數設置，無(wú)需專(zhuān)業(yè)技能，也可在最短的時(shí)間內完成困難測量任務(wù)。先進(jìn)的數據管理如PC一樣提供快速創(chuàng )建文件夾和易于設置批組。除了數字顯示讀數，層次清楚的顯示統計值和讀數包括趨勢圖和直方圖、過(guò)程能力指數”Cp”和“Cpk”以及組統計值。錯誤的讀數可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統計值。

龐大的數據儲存器為必要的數據管理，可保存高達500批組的250,000個(gè)讀數。為滿(mǎn)足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點(diǎn)校準（包括零點(diǎn)）。預設的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。此外，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。

為了方便建立和評估測量值組和各種數據格式的輸出，涂層測厚儀說(shuō)明書(shū)，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數據如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點(diǎn)：測量樣品的圖片可以添加到數據報告中。

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標準配置。一個(gè)多用接線(xiàn)盒可用來(lái)作為一個(gè)USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開(kāi)關(guān)或警報器。對于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線(xiàn)以及IrDA^®^//USB接口轉換器。

模擬信號處理時(shí)代已成過(guò)去，數字信號處理將成為未來(lái)的趨勢。

SIDSP^® 明顯優(yōu)勢

EPK此項探頭內部數字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng )新奠定了新標準。高精度，高重現性，對溫度變化不敏感，涂層測厚儀多少錢(qián)，適應性強，這些都是SIDSP^®的主要特點(diǎn)。創(chuàng )新的生產(chǎn)技術(shù)結合自動(dòng)化校準過(guò)程，而且每個(gè)探頭可獨立校準，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。無(wú)與倫比的精密生產(chǎn)過(guò)程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

重現性

讀數的可靠性主要取決于讀數的重現性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源，所以保護測量系統和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統技術(shù)不同，SIDSP^®在探頭內部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號。回傳的信號直接進(jìn)行數字轉換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過(guò)探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置，也就是說(shuō)：在這種情況下模擬測量系統的信號傳輸過(guò)程中沒(méi)有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長(cháng)的電纜線(xiàn)也沒(méi)問(wèn)題，加長(cháng)的電纜線(xiàn)同樣具有極強的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有極高的重現性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP^®探頭的優(yōu)秀性能。

生產(chǎn)過(guò)程

在生產(chǎn)過(guò)程中，SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)特殊的校準程序，探頭在特征曲線(xiàn)上高達50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準，如此多個(gè)點(diǎn)的校準使得特征曲線(xiàn)在整個(gè)量程范圍內都十分精確以致可以消除其偏差。校準數據被永久儲存在傳感器,無(wú)論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產(chǎn)過(guò)程中，探頭的溫度性能永久地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣，每個(gè)探頭都可以獨立調整溫度補償，在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng)，德國byk涂層測厚儀，特征曲線(xiàn)仍可保持其精確度。

探頭的適應性

有色金屬的導電性可能會(huì )有所不同。對這些基體使用自動(dòng)補償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料，無(wú)需特別在基體上校準儀器。

所有的SIDSP^®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品。可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎上進(jìn)行校準。

探頭設計選擇

不同的線(xiàn)纜插口類(lèi)型更加靈活，來(lái)適應測試要求。每個(gè)標準探頭都可以提供直線(xiàn)纜插口或直角設計，后者可以測量難以進(jìn)入的類(lèi)似管和中空零件。

對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 探頭

可選探頭

種類(lèi)繁多的可換探頭，滿(mǎn)足各種應用要求。

可以通過(guò)推拉式連接系統輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動(dòng)識別基體材料。

與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測量原理。因此，應用錯誤會(huì )被淘汰，加快了測量進(jìn)程。

探頭技術(shù)參數

1.多點(diǎn)校準,在實(shí)驗室條件下符合提供的標準

2.零點(diǎn)校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作

5.根據 DIN 55350第13部分

6.多點(diǎn)校準值優(yōu)于獲得的指定數據.

7.包括涂層

探頭設計選擇

　　　　　　　F 2 HD 探頭

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 主機技術(shù)參數

MiniTest 7400 可選配件

德国ElektroPhysik(简称EPK)公司是一家专门生产测厚仪的专业公司，自1954年以来一直致力于测厚类产品的开发和研究工作，是世界上最早生产测厚类产品的知名公司之一。

半个多世纪以来，EPK公司作为测厚领域的领军公司，在这个领域取得很高的声誉，有着不可替代的地位。EPK产品包括：MikroTest麦考特系列机械型涂镀层测厚仪，MiniTest 70系列口袋式便携式涂镀层测厚仪，MiniTest 700系列创新型SIDSP涂镀层测厚仪，MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂镀层测厚仪，MiniTest 600系列电子型涂镀层测厚仪，QUINTSONIC超声波涂层测厚仪，GALVANOTEST库仑镀层测厚仪，MiniTest 7200/7400 FH壁厚测厚仪，MiniTest 400系列超声波测厚仪，CTM-S连续厚度测量系统，StratoTest 4100路面测厚仪，StratoTest 4100 C炉壁测厚仪，PoroTest 7涂层针孔检测仪等。


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